杂散光和二级衍射效应

杂散光是非信号波长的光辐射照射在探测器象元上产生的误差信号，杂散光的来源是：

• 周围环境光辐射；
• 光学元件缺陷所产生的散射光或非光学元件产生的反射光；
• 不同衍射级次间的重叠 。

把光谱仪安装在光密封的外壳内可以有效地消除周围环境带来的杂散光。

当光谱仪工作在探测极限时（微弱光探测），则光学平台、光栅、聚焦镜的杂散光就决定了光谱仪的最终探测极限。大多数光栅都是全息型光栅，杂散光很低。 avaspec 光谱仪典型的杂散光参数是 <0.05%@600nm; <0.1%@435nm; <0.1%@250nm 。

对于低线对数光栅（宽可测波长范围）来说，往往会发生光栅的二级衍射光之间的重叠。这些高级次衍射光在大多数场合可以忽略不计，但在某些场合下则必须考虑。所采取的策略就是限制到达可能出现级次重叠光谱范围的光。消除的方法可以通过在光谱仪入射 SMA 接口处安装一个长带通滤光片或在探测器上镀特殊膜来实现。表 5 中所示为光学平台内加装长带通带滤光片。推荐具体形式如下： OSF-475 与 NB 或 NC 型光栅搭配； OSF-515/550 与 NB 型光栅搭配； OSF-590 与 IB 型光栅搭配。

此外，为消掉二级衍射效应，我们还在 Sony 2048 探测器上部分镀膜，避免紫外回馈引起的二次效应，提高灵敏度，降低可见光波段的噪声。

这种 UV 膜可以与下列型号的光栅搭配：

• UA ，200-1100nm，DUV400，只在前 400 个象素点上镀膜；
• UB ，200-700 nm, DUV800, 只在前 800 个象素点上镀膜 。

Last Updated: 22-12-05